VLSI test principles and architectures - design for testability
- Författare
- (Edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.)
- Genre
- Bibliografi
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Elsevier Morgan Kaufmann Publishers | cop. 2006 | Nederländerna, Amsterdam, Boston | xxx, 777 sidor. ill. 25 cm. | 978-0-12-370597-6 |