VLSI test principles and architectures - design for testability

Författare
(Edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen.)
Genre
Bibliografi
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Elsevier Morgan Kaufmann Publishers cop. 2006 Nederländerna, Amsterdam, Boston xxx, 777 sidor. ill. 25 cm. 978-0-12-370597-6